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上一条 : 赵宏伟,黄虎,史成利,胡磊磊,杨洁,万顺光,马志超,王小月,米杰,张霖. 基于双位移检测的微纳米尺度原位压痕测试装置,授权时间:2013年3月27日,专利号: ZL 201110108995.X;(已产业转化)
下一条 : 赵宏伟,黄虎,邓金强,赵宏健. 超精密跨尺度原位纳米压痕刻划测试系统,授权时间:2011年5月18日,专利号: ZL 200910066697.1.