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上一条 : 黄虎,赵宏伟,史成利,万顺光. 全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置,授权时间:2014年7月9日,专利号:ZL 201210413791.1;
下一条 : 赵宏伟,黄虎,曲兴田,曲涵,隋航. 微纳米级原位纳米压痕刻划测试系统,授权时间:2013年5月8日,专利号:ZL 201010121060.0;